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电子设备热循环失效机理

电子设备热循环失效机理

热循环导致焊点合金内部产生热应力-应变循环,同时引发焊点金属学组织的演化(晶粒组织变粗糙)。力学和金属学因素的共同作用,导致宏观表象为焊点裂纹的萌生与扩展,引起电信号传输失真的失效现象。随着疲劳损伤累积,焊点的疲劳寿命消耗大约25%到50%之后,在晶粒交界处形成微孔洞,这些微孔洞增长形成微裂纹,进一步增长并聚集成大裂纹。
锡膏<i style='color:red'>焊点</i>可靠性测试方法

锡膏焊点可靠性测试方法

评估锡膏焊点可靠性测试方法,主要有外观检查、X-ray检查、金相切片分析、冷热冲击、高温高湿、跌落实验、振动实验等。在评估锡膏焊点可靠性时可以进行多种测试。但重要的一点是,选择关联性强的测试方法,并且针对一个具体的方法,明确地确定测试参数。
电子元器件<i style='color:red'>焊点</i>可靠性实验步骤

电子元器件焊点可靠性实验步骤

将焊好的元器件或焊点放入91视频官网网址,91视频APP网站入口或超污91视频下载中进行环境实验;取出老化好的样品金相观察与没有老化前的样品进行比较,观察是否有裂纹等缺陷产生;
技术贴|混合合金<i style='color:red'>焊点</i>的可靠性试验和评估

技术贴|混合合金焊点的可靠性试验和评估

此项研究考察了常规SMT组装成品率。(1)0.5mm间距的VFBGA和0.8mm间距的SCSP的无铅封装,在Intel推荐的再流曲线用Sn37Pb焊膏组装,OSP板面和ENIGNi/Au板面的成品率都在99.2%以上。(2)研究数据表明OSP板上SAC钎料球用Sn37Pb焊膏在特定工艺条件下可以满足板级可靠性目标。这些条件归纳为一点,即BGA的SAC钎料球要与Sn37Pb焊膏完全熔合。这里的目标定义为:温度循环800次静态失效率小于5%时,平均失效等于或好于Sn37Pb对照组。
倒装焊领域可靠性测试之HAST高加速应力试验详解

倒装焊领域可靠性测试之HAST高加速应力试验详解

HAST作为一个加速环境试验,用于快速评估倒装焊接在FR-4基板上面阵分布焊点的可靠性。该试验主要是通过加速侵蚀过程,从而大大缩短了可靠性评估时间。
解析: GJB 9380-2018表面安装器件<i style='color:red'>焊点</i>寿命试验方法之印制电路板设计

解析: GJB 9380-2018表面安装器件焊点寿命试验方法之印制电路板设计

高可靠性的焊点通常要有较强的环境适应能力,温度的变化将导致焊点经历周期性的蠕变,终会发生焊点疲劳失效。因此,可以根据焊点的疲劳失效机理,选择91视频官网网址(或温度循环试验箱)来考核焊点的可靠性,具体方案如图1所示。
印刷电路板组件(PCBA)无铅<i style='color:red'>焊点</i>可靠性试验

印刷电路板组件(PCBA)无铅焊点可靠性试验

本标准规定了空调器印刷电路板组件(PCBA)无铅焊点可靠性试验方法、质量要求及检验规则。本标准适用于空调器印刷电路板组件(PCBA)无铅焊点可靠性评定。本标准不适用于特种空调。

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